数字显微全息技术实现文物病害检测

主讲人：周文静 上海大学研究员

时间：2022年5月30日19：30

地点：腾讯会议 654 983 856

举办单位：数理学院

主讲人介绍：周文静，上海大学机自学院研究员/博士生导师。长期从事微纳光学成像与精密测量方法、数字全息测量技术研究，主持国家重点研发计划课题1项、国家自然科学基金和上海市自然科学基金及重大横向产学研等项目10余项；研究成果在《IEEE Transactions on Industrial Informatics》,《Optics Express》,《Applied Optics》,《物理学报》,《光学学报》等权威期刊发表论文40余篇，中国授权发明专利10项，国际发明专利1项，出版《数字全息技术及应用》（科学出版社）专著1本；获2017年度中国计量测试学会科技进步三等奖。

内容介绍：基于数字显微全息技术原理和技术特点，构建不同的全息干涉光路系统，实现透明材料叶尖裂纹生长规律观察及壁画文物材料病害检测。